二手 TEL / TOKYO ELECTRON 20SR #9132519 待售

TEL/TOKYO ELECTRON 20SR prober是為半導體晶圓能級測試而設計的最先進、超高精度晶圓prober。它能夠處理各種晶片基板，從薄膜晶體和商用矽片尺寸到200毫米。TEL 20SR prober是用高度可靠的設計和虛擬的晶圓探測程序庫構建的。它具有很高的靈活性,能夠檢查各種測試場所,包括集成的納米結構和具有先進納米技術功能的5 µm以下的微觀結構。TOKYO ELECTRON 20 SR prober具有高精度、高穩定性和最小熱漂移的穩健設計。它能夠達到非凡的平坦度,並且能夠在<10倍的沈降時間內提供可靠的測試結果。該設備最多可容納14個樣品容器，其集成攝像頭系統允許用戶在測試每個樣品時進行監控。它還具有基於Windows的直觀圖形用戶界面和自動診斷功能,可快速輕松地進行故障排除。TEL 20 SR prober利用兩種不同類型的光學元件。第一種是聚焦的納米結構和集成結構紅外共焦測量，第二種是可視化檢查的頂視圖光學顯微鏡。這些技術的結合使得prober能夠準確測量電路元件的大小、形狀和位置，並檢測元件的空位、陰影和翻轉。Prober的光學分辨率高達8µm，其集成電路最大限度地減少了測試站點之間的串擾。20 SR prober能夠產生高精度的X、Y、Z運動，定位精度為0.01µm。其先進的成像單元集成了高分辨率CCD相機和雙目顯微鏡機，允許精確定位探針以獲得最佳讀數。此外，該探頭利用高精度的寬度和高度測量來定位和探測集成基板內的空腔。這樣可以確保所有測試結果準確可靠。總體而言,20SR prober是一種先進、可靠且功能強大的晶圓測試工具。它為半導體制造測量提供了一個通用、靈活的平臺,它能夠同時處理多個樣品,同時保證質量,從而確保測試的最高精度和精度。