二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-12 #293652211 待售

TEL/TOKYO ELECTRON P-12 Prober是一種用於半導體晶圓探測、測量和檢驗的接觸式Prober。它是一種高度通用的試劑，能夠處理各種晶圓尺寸，每次測量的樣品在1到12個之間。該設備還具有很高的靈活性，允許不同程度的自動化和與不同類型的測試系統集成。Prober的人體工程學設計使它能夠被舒適地操縱，整體尺寸相對緊湊。Prober主要由高品位不銹鋼構成，具有較高的沖擊魯棒性，使其能夠部署在要求最苛刻的晶圓處理環境中。Prober還配備了附著在TEL專有3D驅動器系統上的真空卡盤，即使在高加速度下也能以最小的振動實現準確和可重復的探測。TEL P-12 Prober采用集成、無電纜的設計,與其他探針相比,它簡化了安裝並簡化了設備處理。此外，它還有一個先進的視覺單元，能夠檢測prober標記、基板邊緣和掩模條件，從而在探測中具有更高的精度和準確性。該裝置還結合了空氣軸承和氣流技術，即使在具有挑戰性的制造環境中也能實現高度的可重復性和準確性。它設計用於手動和自動探針,以及非接觸式和接觸式探針提示。此外，防腐劑還設計用於適應各種溫度、泄漏、真空和溫度控制系統，使其能夠應付廣泛的測試和檢查需求。它的控制機器是可擴展的，在配置prober時允許更大的靈活性和選項。其精度和可靠性使其成為半導體晶片探測、測量和檢驗的市場領先者。其用戶友好的設計使操作員能夠快速輕松地配置和使用prober以滿足其特定的應用程序要求。TOKYO ELECTRON P-12 Prober憑借其高精度和性能，無疑是任何晶圓處理環境的絕佳選擇。