二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XL #9089358 待售

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XL Prober是為各領域研發而設計的高度先進的多功能材料測量設備。該系統能夠高精度地測量薄膜樣品，並提供一系列獨特的特征來協助研究。TEL P12XL配備了一個特殊的高分辨率成像單元，以確保測量的精度和重復性。成像機由探頭、微形傳感器和光譜儀組成，用於檢測薄膜樣品的不同物理性質，如微量元素組成和折射率。TOKYO ELECTRON P 12 XL還利用多級目標跟蹤機制，使其探頭保持精確定位在微型預定義測量區域內。探頭設計用於廣泛的薄膜測量，如表面粗糙度評估、表面平均粗糙度測量、X射線厚度測量、X射線反射率測量、X射線衍射分析、表面分析。除了其高精度成像工具外，TEL/TOKYO ELECTRON P12XL還配備了強大的多級應力檢測傳感器。這一資產可以檢測材料表面加工或應力引起的任何應變，並在薄膜樣品中以高達10-8微米的光電滯後精度進行測量。采用多種表面材料制備應力檢測傳感器，廣泛應用於表面應力操作。TOKYO ELECTRON P-12XL也使用特別設計的材料探針，在測量中提供高穩定性和重復性。該探針能夠檢測樣品的任何變形，如表面膨脹或收縮，或樣品在感興趣區域的部分變形。P-12XL還具有高精度溫度控制器,以確保在寬廣的溫度範圍內準確測量結果。所有這些功能結合在一起,提供了P-12 XL的高性能測量,並具有出色的數據重復性。TEL P 12 XL能夠處理長期和短期測量以及高溫事件。然後使用直觀的圖形用戶界面處理使用此模型進行的所有測量,從而為用戶提供易於理解的數據解釋。該設備還包括一個標準材料庫，使用戶能夠輕松地將樣本中的相關數據與接受的基準數據進行比較。總之，TEL/TOKYO ELECTRON P 12 XL Prober是為研發而設計的高端材料測量系統。該單元能夠精確測量薄膜樣品，並提供多種特點，如高分辨率成像機、多級目標跟蹤機構、應力檢測傳感器和高精度溫度控制器。直觀的圖形用戶界面和標準材料庫確保用戶能夠快速輕松地將其數據與公認的基準進行比較。