二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XL #9131741 待售

ID: 9131741
晶圓大小: 12"
優質的: 2001
Prober, 12” Gold Hot GP-IB Cable Head plate Gas-spring on headplate Standard monitor WAPP-20K with brush Card holder Manipulator Wafer table Printer OCR: KLA P8-Zoom SACC: 200/300 Air and vacuum: Fitting Monitor type: Standard Single phase Boards: 147-CON VIP3A GP-iB TVB9003-1316 PST-STD PST-OPT Loader driver SIO Frequency: Standard: 50/60 Hz Metric: 50/60 Hz 200 V 2001 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XL Prober是一種高度先進的自動化測試設備,用於IC和設備制造過程。它用於測量和驗證IC的電氣特性,從而能夠對各種設備類型進行準確診斷。TEL P12XL Prober具有先進的技術集成和流程自動化功能,使其能夠運行多個流程並同時測量多個示例。該系統的核心是一個先進的機械臂和照相機裝置,能夠準確地拾取、定位和放置IC芯片。該探頭配備了三種不同的測量扇形探針卡,每一種都有自己的能力和應用。W12-PRCF探頭專為半導體應用而設計,每小時可測量30,000個探頭。W12-PCST探頭設計用於TFT控制器和晶體管應用,每小時可測量30,000個探頭。W12-T0T8探頭在TFT和OLED應用程序中提供高級性能,每秒最多可測量8個探頭。TOKYO ELECTRON P 12 XL Prober還加入了一種超高速並行信號分析儀,每毫秒可測量1000個信號,使其能夠比以往更少的時間測量和組裝設備。為了同時測試多個單元,TEL/TOKYO ELECTRON P12XL有一個並行測量裝置驅動程序,允許多個探針和探針同時用於同時測量多個IC芯片,大大提高了工藝效率。P-12XL還具有許多連接選項,包括以太網、Wi-Fi和USB2.0,使其能夠與各種其他系統結合使用,使其成為一個通用、可靠和高度先進的prober解決方案。此外,TEL P 12 XL Prober具有高度可編程性,允許用戶輕松控制Prober並自定義其測試過程。該機設計方便維護,便於必要時更換和修理零件。總體而言,TEL/TOKYO ELECTRON P 12 XL Prober是一種功能強大、可靠且高度先進的自動化測試工具,能夠對IC進行詳細測試,確保準確診斷、提高工藝效率和改進設備制造。
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