二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XL #9254700 待售

ID: 9254700
優質的: 2004
Wafer prober XY Probing accuracy: ± 4.0 μm Z Probing accuracy: ± 5.0 μm Optical system: ASU/BCU-I Probing force: 100 kg 2004 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XL是為半導體器件測試、檢驗和評估而設計的高端測試裝置。它能夠測試各種半導體器件類型,包括晶體管、電阻器和電容器。TEL P12XL包括一個內置的接觸探測系統以及一套全面的接觸和非接觸測量功能。TOKYO ELECTRON P 12 XL能夠測量長度低至5微米的半導體器件。它在接觸之間的可調間距為0.5至4.5毫米,能夠在500 kHz以下測量。TEL/TOKYO ELECTRON P 12 XL采用三點接觸設計,以減少灰塵和碎片對測量的影響。TEL/TOKYO ELECTRON P12XL具有帶加熱卡盤的探針卡、用於電源和數據采集的架子以及用於將電纜和探頭布線到樣品塊頭的大型電纜托盤。它易於使用的設計讓用戶能夠快速準確地設置測試配置和控制參數,如探頭、頭部位置、壓力和電壓。除了測量半導體器件外,TOKYO ELECTRON P-12XL還能夠測試超薄晶片的機械性能,深度分辨率為0.001微米,以0.5微米為增量測量。TEL P-12XL采用光學和電容傳感器技術來測量設備厚度和表面地形。TEL P 12 XL還包括一個特殊的端口來連接一個示波器,使用戶能夠快速評估波形行為。TOKYO ELECTRON P12XL還配備了先進的軟件和精密的通信協議,允許簡單地集成到制造環境中。它還與大多數外圍設備兼容,包括廣泛的編譯器、模擬器和第三方軟件,用於編程、調試和儀器控制。總體而言,P-12 XL對於尋求能同時處理多種測試和評估任務的高精確度和高效螺旋槳的廠商來說是絕佳選擇。TEL P-12 XL具有內置的接觸探測系統、加熱卡盤、卓越的數據采集能力和先進的軟件,可幫助提高生產現場的生產率、效率和準確性。
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