二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XL #9254711 待售
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ID: 9254711
優質的: 2003
Wafer prober
XY Probing accuracy: ±4.0 μm
Z Probing accuracy: ±5.0 μm
Probing force: 100 kg
Optical system: ASU/BCU-I
2003 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XL Prober廣泛應用於半導體分析和測試。它旨在快速準確地為從低端到高端的一系列產品提供質量數據。它最大限度地提供可靠的晶片和模具性能數據。TEL P12XL Prober是用於探測器測試和設備級別測量的自動化系統解決方案。精密推進器具有先進的運動控制,具有高速、精確的定位和可重復性.12 「x 12」螺桿使模具易於定位到12 「x 12」測試模式區域。一系列產品的快速準確的數據是由prober的精密探測EDM(放電加工)技術保證的。TOKYO ELECTRON P 12 XL Prober提供了包括模具探測和全晶片級探測在內的全方位晶片和模具測試功能。其強大的晶圓級精密prober能夠精確檢查和探測不同類型的電氣設備,如DRAM、SRAM、SRAMC、ROM、DRAM內存卡和車載半導體。TEL/TOKYO ELECTRON P12XL Prober具有易於使用的圖形用戶界面,具有多種功能。用戶友好的設計使編程和測試過程能夠快速準確地執行,而顯示屏提供了被測試模具或晶片的完整可視化。Prober是完全自動化的,並通過提供詳細的統計信息來確保可靠性。質量系統可確保每個測試周期中的數據準確且可重復,而可互換的晶圓測試頭可實現復雜的探測配置。P-12 XL Prober還配備了用於測試和模擬的高級分析軟件,確保了對模具和晶片進行最準確可靠的測量。對系統硬件和軟件的靈活性進行了調整,以便在最短時間內產生最高精度的數據。這會導致任何生產、工藝或設備的質量更高且無故障率。
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