二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLm #9193671 待售

TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLm
ID: 9193671
Probers Chuck top size: 12" Chuck top material: Gold coating Chuck temperature range: Hot (50°C - 150°C) Docking tester: ADVANTEST Tester Hardware interface tester: ZIF Main CPU: VIP3A Cassette loader: Single port, left type Probe card changer Manipulator hinge No OCR No cleaning unit No wafer ID reading option Tester l/F: GPIB.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLm是為高級半導體工藝測試而開發的一款prober。這一高性能工具為各種應用方案提供了可靠的探測。該設備采用機械驅動探頭,設計在測試過程中達到均勻可重復的接觸力。該系統還具有抑制振動的機制,即使在嘈雜的環境中也能確保高精度的檢測結果。Prober具有先進的晶片處理能力,能夠高速探測封裝零件、晶片和測試零件。它采用獨特的高分辨率光學定位單元進行設計,能夠以2 μ m的分辨率快速精確地對準和測量。該探頭還具有加熱級,為半導體測試提供熱穩定性。該方法非常適合過程表征和質量控制應用。Prober具有自動化的操作和裝卸功能,具有矩形裝載區、雙載波晶片支撐和鎖載門。這臺機器能夠測量0.1 μ m到1000 μ m,同時保持高吞吐量。它使用單一顯微鏡進行明場和暗場成像。該裝置具有熱調節功能,允許溫度變化從20℃到150℃.它還具有可編程控制界面,允許用戶配置和運行測試。其他高級功能包括自動采樣器兼容性、高級錯誤檢測能力和用戶友好的工具管理軟件。總體而言,TEL P12XLM結合了高精度機械化探測、減振、加熱級、自動化操作和熱調節功能,使其成為高級半導體工藝測試和表征的理想選擇。
還沒有評論