二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLm #9265132 待售

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLm是一種半導體物理測量探測器，設計用於精確探測、映射、基於映射的探測和芯片電氣分析。它是一種可靠且高度精確的工具，設計用於探測、測試和評估半導體材料。TEL P12XLM具有雙光束探頭級,最大芯片尺寸為300 mm x 300 mm。該設備能夠達到高達30微米的模具和設備映射分辨率，以及10微米的電氣測量分辨率。Prober配有兩個探頭讀卡器，X/Y 3軸對準精度為+/-0.5微米，Z0.1微米，具有自動探頭高度控制系統，保證一致的擠壓力管理，適用於不同的應用。Prober還有一個掃描成像單元，為用戶提供模具配置概況，以及一個自動對準單元，使其能夠檢測相對於成像模具的探針位置，並在芯片上測量多個模具時進行模模縫合。TOKYO ELECTRON P 12 XLM用途廣泛，可以容納多種探針，從接觸式和開爾文夾式探針到90度角探針。它還支持各種探針技術，包括、射頻、熱成像、電容/電導、光學和照相機探針。該機器能夠在單個模具上進行多通道電氣測量,以及使用蜂鳴/無蜂鳴采樣方法進行高通量測量。Prober配有機械臂，允許自動晶圓運輸和位置調整。當晶圓固定到位時，機械臂也可以自動插入探針卡。綜上所述，TEL/TOKYO ELECTRON P-12 XLM是一種頂級的半導體物理測量裝置，提供廣泛的功能。它具有雙光束探頭級和精確的對準工具，可以進行精確的探測和測試。它配備了掃描成像單元和用於晶圓傳輸的機器人臂，並支持多通道電氣測量。Prober能夠達到高達30微米的分辨率，是一種可靠且高度精確的半導體探測工具。