二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn #293733140 待售

ID: 293733140
晶圓大小: 12"
優質的: 2005
Prober, 12" Process: Wafer Test Front Opening Unified Pod (FOUP) loader 2005 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLn是一種為半導體產業提供先進Prober技術的prober。該裝置旨在滿足半導體測試和探針應用的高性能要求。它配備了多探頭系統和先進的過程控制能力,允許對高密度、高速、超低功率的IC進行測試。TEL P 12 XLN負載容量為11600g,總移動範圍為129mm,為高級測試和高密度IC探測提供了理想的解決方案。TOKYO ELECTRON P-12 XLN具有獨特的高速參數化prober控制器,允許設備在0.001秒內探測IC設備。還包括一個光學多路復用器,以支持以前所未有的20MHz速度測試高速設備。該設備還提供了高級自動化過程控制(APC)功能,使測試工程師能夠通過逐個探針精確控制探針的探針條件來實現高產率。此外,該設備還集成了多種高端物料處理功能,以實現最高的效率和準確性。TEL/TOKYO ELECTRON P 12 XLN具有業界領先的功耗和表征能力,能夠在各種不同的電壓電平上工作。它還支持背面離子銑削,允許測試工程師執行預檢查過程,而不必移除精細的設備組件。此外,該設備還支持一個自動化的高精度相移補償系統,用於準確的偏斜檢測和表征。TEL/TOKYO ELECTRON P-12 XLN能夠使用廣泛的封裝執行,包括BGA、QFP、PLCC和TSOP。憑借其全面的連接選項,它與各種不同的測試探測器和其他設備兼容。該設備還配備了直觀的圖形用戶界面,允許用戶輕松配置和控制設備。此外,prober的5軸運動功能允許進行最高程度的硬件定制。總之,P 12 XLN是一款功能強大、高度先進的prober,旨在滿足半導體測試和探測市場的嚴謹需求。通過利用其先進的過程控制、高速參數化能力、物料處理能力和電源效率,設備能夠提供前所未有的精度和性能級別,這是高級測試和IC探測所必需的。
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