二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn+ #9090918 待售
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ID: 9090918
優質的: 2004
Prober
CPU Type: VIP3A
Single cassette / wide loader type
Nickel hot and cold chuck top, 12"
Temperature controller
WAPP
SACC
Input power: AC 200 V
Temperature accuracy:
± 0.5°C (+Temperature)
± 1.0°C (-Temperature)
Temperature resolution: 0.1°C
Technology: Heater / cooler air type
Chuck:
Temperature up / down: -40ºC ⇔ +150ºC
Chiller:
Temp setting (0ºC - 20ºC)
Stand by: Case by chuck temp +35ºC upper
Dew point meter:
Reading: -80ºC to +20ºC
Purge air:
(2) Solenoids: On / Off
Wafer testing solution: -40ºC - +150ºC
Options:
Chiller: CT-50A Air cooling system (-40º ~ 150º)
Air input: 25 SCFM at 80 ~ 125 PSI
Operating range: -40°C ~ 200°C
Temperature stability: ± 0.1°C
AC 220 V / 60 Hz / 20 A
Interface: RS-232C, IEEE-488
2004 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLn+Prober是一款功能齊全的Prober，專為進行先進的半導體晶圓測試和檢驗而設計。它是一種多用途工具，可用於各種半導體晶片的測試和檢驗，從晶片成像到矽模具的3D成像。它具有高性能的彩色和自動對焦視覺系統，大視野，提供精確的成像分辨率，快速的檢查掃描，精確的自動對焦操作。該探頭還具有多點快速力激光（FFL）系統，能夠對晶圓結構和元件進行快速、精確的3D探測。TEL P12XLN+還支持廣泛的晶圓測試和分析軟件套件庫，以及一系列熱測量工具。TOKYO ELECTRON P 12 XLN+是探測具有嵌入式晶體管、電感、金屬觸點等結構的晶片的理想選擇。測試儀可以檢測和測量裂紋、短褲、顆粒汙染、底層缺陷等缺陷。它還能夠精確測量小間隙大小，如層間間隙大小、透矽（TSV）間隙大小和鈍化層間隙大小。P 12 XLN+還附帶了廣泛的計量和分析工具，使用戶能夠表征其晶圓和組件中的特征和參數。Prober的設計采用了堅固可靠的平臺，為各種晶片提供了穩定、可重復、準確的探測環境，從小型芯片到最大12英寸的大型晶片。低噪聲水平也保證了光譜成像可以用最小的幹擾完成。TEL/TOKYO ELECTRON P 12 XLN+prober是先進的高產晶圓探測任務的理想工具。
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