二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn #9102060 待售

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLn prober是為半導體晶圓測試和計量設計的高端分析電子顯微鏡（AEM）。它具有四軸數字伺服設備,可提供精確、可重復的運動,並具有非常低的熱失真級別,從而獲得最大的采樣精度。它采用大型開放空間設計,同時支持標準尺寸和超大型晶片。它包含了一個高分辨率的數碼相機，用於擴展勘測成像和先進的自動粒子計數功能。TEL P 12 XLN prober配備了大的、明亮的場X-Y-Z晶片級，負載能力高，以及擴展的Z軸，以適應較大的采樣範圍。它具有強大的垂直掃描電子顯微鏡（VSEM），沈降時間短，圖像分辨率高，通量率高。該prober還具有獲得TEL專利的光束光學控制（BOC）系統,該系統提供卓越的聚焦穩定性和最小化的球差效應。此外，TOKYO ELECTRON P-12 XLN具有獨特的納米聚焦單元和兩級自動居中晶片卡盤。納米聚焦機允許電子束的超精確定位和很小的面積成像，而自動定心功能則提供了快速準確的對準，以實現快速掃描時間。Prober的設計目的是使振動最小化，增強圖像穩定性，並確保在廣泛的樣本中進行高度精確的采樣。TEL P-12XLn prober還提供卓越的邊緣跟蹤功能。它利用多柱自動定心板具有多個點，可以檢測邊緣晶片運動，同時捕獲高精度的圖像。Prober支持多種類型的晶片級和樣品，範圍從標準尺寸到超大型晶片。而且，TOKYO ELECTRON P 12 XLN由最新的TOKYO ELECTRON軟件控制，兼容了一系列操作系統進行綜合測試。總體而言，P-12 XLN prober是半導體行業測試和計量的理想解決方案。其高精度組件和高級功能可確保卓越的圖像質量、可重復性和準確性。其廣泛的特性和功能還為用戶提供了分析和測試各種樣本的最終靈活性。