二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn+ #9228674 待售

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLn+是為了現代半導體技術而設計的一種prober。它配備了最新的技術和用戶界面，用於對設備和互連參數進行高效的測量和分析。廣泛應用於振幅和統計分析、模具和互連表征、工藝優化和產量改進等領域。TEL P12XLN+配備了12英寸的基板固定卡盤，為用戶提供多種定位和測量功能。它配有一個標準的探針臂，能夠全方位旋轉，並配有多種探針，包括熱和微操縱器，以及四重透鏡顯微鏡。它還包括各種圖像處理和分析工具。手臂可以移動，並以每分鐘600arm的最大速度旋轉，並配備壓力反饋以精確測量探頭力。為方便設備和互連測量，TOKYO ELECTRON P 12 XLN+配備了高性能掃描電子顯微鏡，使用戶能夠捕捉到被測設備的高度詳細的圖像。顯微鏡配有20英寸長工作距離物鏡，消色差和無色冷凝器，光斑尺寸為5nm。它還帶有一個可變放大級，用於測量納米範圍內的器件特征。系統強大的數據采集和分析功能使用戶能夠從設備和互連中獲取詳細信息。它具有數據記錄和繪圖功能,可以對樣本進行有效的歷史跟蹤和比較。此外,P 12 XLN+還配備了與分析測試系統以及自動探針的直接接口。TOKYO ELECTRON P-12XLn+除了提供全面的測量和分析能力外，還為用戶提供了定制自己的系統和設計定制測量和分析程序的能力。通過靈活的硬件和軟件配置選項,用戶可以創建滿足其確切需求的量身定制的處理器。總體而言,TEL P-12XLn+是一款高度先進的Prober,專為高效的設備和互連特性而設計。它提供了強大的數據采集和分析功能,以及定制系統的可自定義選項,使其成為半導體公司的寶貴工具。