二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn+ #9230417 待售

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLn+是一款先進的半導體測試探頭，專為小切塊區域、細間距探針、超細接線/墊探針應用而設計。它提供了精確快速測量模具參數的工具，包括校樣讀數、高分辨率線墊測量和電氣參數讀數。這種探針非常適合於各種半導體器件相關的測量，如晶圓級探測和小IC的表征。TEL P12XLN+具有重型鋼架,尺寸為1200mm x 700 mm,最大探測高度為500 mm。此螺桿采用大軸X-Y-Z機構設計，可處理直徑達300 mm的晶圓尺寸。TOKYO ELECTRON P 12 XLN+配備了兩條最大探測速度600mm/s的高速掃描路徑，允許快速、精確的垂直探測。其X-Y-Z運動也進行了優化，以便在晶圓的不同部位進行穩健、正確的探測。P-12XLn+還具有內建的模具分選器特性，可以在探測後自動將晶片上的模具分組。此功能旨在優化晶片探測效率,減少模具的手動處理.此外，此prober具有儲存多種晶圓和配方的能力，使其成為大容量測試的理想prober。P 12 XLN+的用戶界面非常直觀，使得設置實驗和數據收集變得容易。這個prober支持多個軟件應用程序，允許用戶根據自己的需求定制每個功能。此prober的自動啟動功能允許一鍵自動探測。總之，TOKYO ELECTRON P12XLN+是為通用晶圓探測和專用小型器件測試而設計的先進prober。它采用重型鋼架、兩條高速掃描路徑和模具分選功能設計，具有最大的柔韌性和準確性。此外，它直觀的用戶界面和自動啟動功能使得實驗和數據收集變得毫不費力。