二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn+ #9230418 待售

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLn+是半導體工業中用於電氣和光學測試的一種載體。此Prober設計為用於探測的全自動解決方案（FAS）,可實現更高效的吞吐量和更高的產量。它配備了自動化電氣測試系統（ATES），並使用光學焦點分析（OFA）和視覺與對準（VA）的組合，對半導體晶片進行精確的視覺檢查。TEL P12XLN+的ATES系統自動探測和訪問半導體晶片的電性能，並允許用戶根據提供的參數進行精確設置。此設置確保晶片根據制造商的規格和市場的生產要求進行測試。TOKYO ELECTRON P 12 XLN+提供的FAS減少了半導體工業中使用的其他探針所需的設置時間和訓練時間。P-12XLn+使用的OFA和VA允許對半導體晶片進行更精確的目視檢查。OFA系統能夠快速準確地識別晶片上的缺陷，幫助用戶區分晶片上的缺陷和正常特征。此功能允許用戶識別需要解決的潛在問題,以確保產品成功。VA使用高分辨率光學顯微鏡來測量缺陷的位置和大小。這有助於用戶在潛在缺陷成為晶圓生產過程中的問題之前識別它們。P 12 XLN+為用戶提供了卓越的用戶體驗。它被設計為易於使用，允許用戶通過按下一個按鈕快速、方便地訪問晶圓功能。用戶友好的界面提供了一系列易於理解和自定義的設置和參數。TEL P-12XLn+提供的綜合信息有助於確保晶圓根據所需的生產參數進行測試。TEL P 12 XLN+是半導體行業中最先進的探針之一，能夠提供可靠準確的結果。其FAS和ATES系統使其成為快速測試產品和準確評估晶圓的理想選擇。它強大、易於使用的用戶界面以及卓越的視覺檢查功能,使其成為高效測試新項目的理想選擇。