二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn #9236129 待售

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLn Prober是一種先進的晶圓檢測工具，被半導體制造商用來測量、檢驗和評估矽片及其化學性質。該prober實現了多軸定位技術，可用於精確測量分辨率範圍為0.01 x至0.003mm的晶圓圓度。此外,此工具能夠同時測量晶圓的多個非接觸點的深度、大小和形狀。它還有一個可調節的晶圓開槽設備，可以用來對半導體的化學膜特性進行各種分析和評估。TEL P 12 XLN利用激光幹涉測量系統（LIS）進行在線厚度測量。這個單元由一個激光光源、一組光學器件、一個掃描鏡頭和一個照片傳感器組成。激光對準晶片表面，產生被照片傳感器檢測到的幹涉圖樣，允許精確和可重復的測量。這個prober配有一個機器人自動化功能，允許晶片被精確地放置在這個工具的腔室中，確保放置晶片的動作每次都被精確地執行。TOKYO ELECTRON P-12 XLN具有可重復的精度和精確度，能夠在生產後提供可靠的生產效果。為了提高精度，TOKYO ELECTRON P 12 XLN具有高精度、大幹涉測量級，移動範圍在1mm至4mm之間。這樣可以對不同厚度進行高度精確的測量,同時最大程度地減少傾斜和擺動。TOKYO ELECTRON P-12XLn的靈活性和可靠性在業界備受推崇。它適用於各種晶片類型，能夠測量復雜的薄膜。它還擁有一臺監測水位、溫度和壓力水平的機器，確保為質量控制目的提供一致的讀數。為確保持續的用戶友好操作,TEL P-12XLn是一個用戶友好的工具,具有方便、直觀的圖形用戶界面（GUI）和基於觸摸屏的控制面板。它還具有許多安全功能,可減少事故和停機時間。TEL/TOKYO ELECTRON P-12 XLN Prober是一款功能強大、用途廣泛的工具，通過其先進的多軸定位技術、機器人自動化、大型幹涉測量階段提供高精度的結果。它具有易於使用的圖形用戶界面、可靠的數據讀數和安全的操作,是半導體生產的有效而寶貴的工具。