二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn #9236130 待售

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLn Prober是一個自動化的prober，設計用於檢查各種半導體元件的性能。Prober非常適合測試高性能設計,如雙門FET和模擬組件。它能夠探測高達600 pin的零件,間隙精度最小μ 0.1米,高分辨率為256像素/毫米。此外,prober可以容納和測量具有1.0 mil軌跡/空間寬度的接觸墊幾何形狀。TEL P 12 XLN由高速、步進電機供電的多軸運動平臺提供動力，用於對準和多個接口機制，用於樣品和分析信號的接觸。Prober具有手動和計算機化的接口,能夠進行可靠的信號分析和測試開發。該設備提供多種探頭和信號調節硬件，如雙門FET測試儀、接觸檢查器和信號發生器。TOKYO ELECTRON P-12 XLN還配備了精密的電子設備，允許廣泛的操作模式和功能，包括高速掃描能力、自動處理測量波形、自動探針補償以及在多個測試條件之間自動切換。P-12 XLN可以分析和測量廣泛的信號範圍，如DC、AC和波形生成的波形。該系統還提供各種統計工具，用於記錄波形，以便進一步分析。而且，TEL/TOKYO ELECTRON P 12 XLN配備了多種影像、色彩、聲音處理能力，使用戶可以輕松解讀波形的特性。該單元配有光束和環形成像系統，允許精確定位探針軌跡和探針電極。這樣可以確保prober能夠準確地與被測設備聯系。此外,P 12 XLN還包括一臺溫度控制機,能夠準確監控接觸墊和樣品的溫度。P-12XLn還配備了各種提高工具可靠性和性能的機械工具,如除塵器、除塵器和吸塵器,以及用於設備處理的壓機和拾取設備。所有這些工具，連同運動平臺，都使螺旋槳的性能得到控制和精確。Prober兼容示波器、數字萬用表、邏輯分析儀等各種測試設備。總之，TEL/TOKYO ELECTRON P-12 XLN Prober是測試高性能半導體元件的先進工具。Prober具有廣泛的功能和工具,包括高速掃描功能、自動處理波形、自動探針補償以及在多個測試條件之間自動切換。再者，prober配備了不同的圖像、顏色和聲音處理能力，使用戶能夠有效詮釋波形特性。除了機械工具和溫度控制模型之外,所有這些功能都使TEL P-12XLn成為各種測試應用程序的理想工具。