二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn #9276346 待售

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ID: 9276346
晶圓大小: 12"
Wafer prober, 12" 4156C Tester through switching Matrix B2200A Test head Loader type: Single FOUP open X, Y Probing accuracy: ±1.8μm Optical system: ASU / BCU-Ⅰ Probe card size: Up to 350 mm Wafer cassette: FOUP Constant temperature chuck: 25°C to 150°C (Air cool, +/- 3°C) ATE Low leakage probe card interface Does not include Hard Disk Drive (HDD) No hinge.
TEL或TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLn是專為處理高端半導體器件制造而設計的精密處理器。在高分辨率晶圓探測環境中,此Prober可提供精確的結果和優異的性能。該探頭具有12英寸水平級、高分辨率探頭和高速容量。精密螺旋槳采用超精密運動,能夠精確定位和探測設備上的所有針腳。其先進的三軸運動系統可實現精確的探測和接觸對準。可變的高分辨率探頭可用於測試高分辨率的大面積設備。此外,它還具有可調的保持壓力調整,從1公斤到10公斤,嚴格控制探頭對裝置表面的壓力,以及提供可重復結果的力傳感系統。TOKYO ELECTRON PROBER也具有晶圓探測的高速能力,測試速度高達每秒50次評估。其出色的隔振性能保證了探頭的穩定性,在溫度和環境變化下實現了精確的接觸評估。Prober還具有緊湊的設計,8至12英寸的大晶圓尺寸容量,以及2µm的最小移動尺度。椅子被分成由獨立電動機驅動的多個軸,可以達到高性能螺桿所需的整個運動範圍。TEL P 12 XLN具有高精度和高性能,非常適合探測各種生產環境中的任何高端半導體器件。它是滿足先進技術需求的最佳晶圓探測解決方案之一。
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