二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293661227 待售

TEL/TOKYO ELECTRON P-8 prober是一種高性能的半導體測試設備，設計用於檢測和測量半導體晶片中模具和探針之間的電界面特性。是一種先進的微電子器件企業級分析自動化設備。它由精密的機械和電氣部件組成,包括多達8個XYZ級組件、探頭、探頭刀片以及集成的高壓影響模塊。TEL P8 prober有一個加載系統，方便準確地處理晶片。為了進行探測，XYZ舞臺組件在所有軸線上都采用了線性運動和鋼球鉛螺釘，以確保舞臺的快速穿越。前沿探頭采用高精度壓電執行器和適於精確對準和接觸的探頭。還專門設計了與漏電濾波器配對的高壓影響模塊，以盡量減少雜散電容和靜電耦合的影響。TOKYO ELECTRON P8 prober可以同時配置、索引、測量多個點。它具有光學編碼器單元的自動舞臺校準以及實時插值機，以提高性能和精度。它支持高級數據處理,以實現數據表圖形的顯示以及將復雜數據導出到其他應用程序。由於具有自動故障檢測工具和執行自檢的能力,它具有強大可靠的性能,並最大程度地減少了停機時間。TEL P8 prober提供了改進的功能,例如測量之間的細微延遲,以提高其先進的數字延遲資產的準確性和更快的數據處理速度。它還支持廣泛的輸出參數，包括電流、電壓、電阻、電容、阻抗和Q因子。此外,還支持高級功能設置,包括探測溫度相關效應的特殊測試和紫外可見（UV-VIS）後測量。綜上所述，TOKYO ELECTRON P8 prober是一種高精度儀器，為探測半導體晶片提供了一種更簡便準確的方法。它支持對電氣接口特性的各種測量，同時確保穩定和精確的測試環境。它具有一系列功能，能夠有效地運行復雜的實驗和測試場景。