二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293742041 待售

TEL/TOKYO ELECTRON P-8是一種用於測量半導體器件的電性能的prober。它是一種半導體測試設備，允許在晶圓級對半導體器件進行高精度的電氣測量。TEL P8 prober的設計具有高精度但緊湊的占地面積，以滿足晶圓prober應用不斷擴大的需求，提供改進的晶圓探測精度、產量和吞吐量。它可以測量接觸電阻、導線電阻、功耗等不同的電氣參數。TOKYO ELECTRON P8 prober在無矢量掃描技術上運行，在該技術中同時測量接觸位移和電阻。該系統經過ASIC測試和認證,並作為完整組件提供,包括探針卡、頭卡、卡盤和軟件。探針卡設計用於將探針與正在測試的晶片接觸。探針可以精確調整以測量單點的電阻，直至高重復性和廣泛電阻的大陣列點。探頭卡配有冷卻機構，可在延長載荷時進行高精度探測。磁頭使用後置驅動器執行器控制單元,在探頭插入和接觸時具有很高的可重復性。卡盤在探測時使用真空機對晶片提供安全的抓地力。它還為晶圓傳輸過程中的斷裂提供了可靠的保護。TEL/TOKYO ELECTRON P8 prober的軟體設計為提供人性化的測試環境。它包含用於數據采集、分析和晶圓成像的工具,這些工具對於成功的晶圓測試至關重要。該軟件可幫助操作員根據需要自定義測試參數,並提供設置和過程自動化功能。P8 prober生成的數據可以導出和導入到不同的格式中，便於高效的數據傳輸和分析。總之，TOKYO ELECTRON P8 prober為半導體元件提供了可靠準確的測試工具。它配備了先進的功能,能夠在人工幹預最少的情況下進行高效的測試。該資產將高精度占用空間與用戶友好的軟件平臺相結合,使其成為晶圓級測試和分析的理想解決方案。