二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293809515 待售

TEL/TOKYO ELECTRON P-8是一種用於測量半導體晶片和器件的電性能的prober。具備自動晶圓映射能力和綜合操作功能。強大的設備專為當今現代集成電路（IC）制造過程中的精確測量和穩定運行而設計。TEL P8是TEL prober產品系列中最新的prober，融合了高端特性和先進技術。它提供卓越的電氣測量,例如源測量單元（SMU）,能夠進行高壓和/或低電流測量。自動晶圓映射功能使其非常適合測試包括DRAM、SRAM和邏輯RAM應用在內的精細結構。它非常適合高級內存和Logic進程,例如READ和WRITE功能,以及大型分發網絡的測試。這個先進的prober能夠測量寬的動態範圍，低至0.1mA和高達10安培。TOKYO ELECTRON P 8的設計基於模塊化構造，使其成為一個用途廣泛、功能強大的系統。TEL/TOKYO ELECTRON P 8的基模是一個先進的晶圓處理單元，使用符合要求的安裝級和晶圓盒式組件，以確保精確的晶圓映射和測試位點放置。Prober的背板配有VHF無線電模塊，方便遠程編程和數據下載。機器還有一個用戶友好的圖形界面，它顯示測試設置，結果是一個易於理解的圖形格式。此外，該工具還提供了多種測試模式，以及簡單直觀的批處理模式操作。P8還擁有高速數據采集資產，允許實時測試結果顯示和快速重測能力。該模型的數據采集速度高達50Ms/s，適用於高頻測試。TOKYO ELECTRON P8兼容多種晶圓尺寸，從200毫米到300毫米不等。此外，它還具有排他性的間隙控制能力，允許精確的動態測試程序。總體而言，TOKYO ELECTRON P-8是一種頂級的prober，允許在現代IC制造過程中進行精確的電氣測量和穩定的操作。它提供了先進的晶圓映射能力、高速數據采集、廣泛的動態範圍以及與各種晶圓尺寸的兼容性。TEL P-8還有一個直觀的用戶界面，允許用戶友好的編程和數據顯示。該設備非常適合高級內存和邏輯過程以及高頻測試。