二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293809521 待售

TEL/TOKYO ELECTRON P-8 Prober是一種高性能的Prober，設計用於：-高速探測速率和超低循環測試。-高級流程分析。-高精度表面測量和與各種設備尺寸的兼容性。開發TEL P8 Prober是為了滿足不斷增長的制造工藝需求和表面檢測精度。它是一種高速、掃描的探針，可以容納範圍廣泛的晶圓尺寸，並且與高達25毫米x 25mm的芯片尺寸兼容。它具有兩個電荷耦合器件（CCD）圖像傳感器和四個麥克風來測量表面地形和缺陷，以便分析加速/減速波形以進行過程分析。TOKYO ELECTRON P8 Prober利用集成控制設備結合機智時間控制系統，可進行高速測試和精確的表面測量。集成控制單元由五個軸組成,允許在測試過程中向前/向後移動和X 軸/Y 軸/Z軸移動。這使得晶片的精確定位能夠在最短的循環時間內獲得高度精確的表面測量和分析。TEL/TOKYO ELECTRON P 8 Prober配備了經過徹底測試的視覺機，使用兩臺CCD相機高速準確地獲取圖像。同時發光並向物體傳播，得到圖像，反射光返回相機，形成圖像。視覺工具隨後考慮像素總數、噪聲、失真和其他參數，以準確獲得表面測量結果。另外，P-8 Prober具有四個麥克風，分析聲學數據以獲得給定晶圓的寬帶頻率。它能夠在三個軸上進行頻率分析，能夠精確測量表面的距離和形狀。然後，四個麥克風通過開放源代碼軟件對數據進行通信，從而能夠同時測試多個樣本，從而獲得平均完成程度。TEL P8 Prober也兼容低溫過程，並配有靜電卡盤和冷卡盤，以便進行精確的實驗。冷卡盤能夠在-70至+25攝氏度的範圍內工作，使低溫過程分析成為最佳。總體而言,TEL/TOKYO ELECTRON P8 Prober是一款高性能的Prober,提供卓越的速度和準確性。采用兩個CCD攝像機和四個麥克風進行精確的表面測量和工藝分析，適用於0mm到25mm的各種樣品分析。此外，TEL P-8 Prober還配備了先進的功能，如機智的時間控制資產和靜電/冷卡盤，用於各種工藝和溫度。