二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293823437 待售

TEL/TOKYO ELECTRON P-8是一款專為先進半導體器件和集成電路測試而設計的prober。它能夠在晶圓級測試設備，從而能夠在單個芯片組裝成電路之前對其進行表征。TEL P8是一個多通道的prober，允許同時測試多個設備。它具有高精度的XYZ定位階段,適合在非常小的特性（如顛簸和MEMS設備）上進行測量。XYZ定位級的分辨率為10納米，可重復性為1.5微米。它采用高精度電機驅動，並針對低振動進行了優化，確保了對晶片的出色控制。設備可處理直徑達300 mm的晶片，可針對不同晶片尺寸進行調整。TOKYO ELECTRON P8 prober能夠支持手動和自動探測。該設置對用戶友好,並提供多種探測技術,包括單站點探測和多站點掃描。該系統可與自動化樣品處理單元和在線C-SAM（關鍵采樣分析器模塊）集成,用於自動采樣和分析。C-SAM可以進行缺陷檢測、屈服增強和可靠性測試。機器還提供數據收集功能，允許用戶記錄各種數據點，包括電壓、電流和電容值。P-8 prober設計為與各種類型的物料移交和探測站系統兼容。這樣可確保與現有基礎架構的最大兼容性和靈活性。此外,該工具還設計用於在高度、溫度和濕度等極端環境條件下執行。這樣即使在惡劣的條件下也能確保數據的可靠性和一致性。P8 prober是半導體器件和集成電路測試的理想解決方案。它提供性能、準確性和靈活性,以及與現有基礎架構的可靠性和兼容性。該資產的設計旨在對非常小的特征上的測量提供出色的控制,並且可以很容易地與自動化的取樣和分析系統集成在一起。這使得它成為包括汽車和電信在內的許多行業的理想選擇。