二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #9161446 待售

TEL / TOKYO ELECTRON P-8
ID: 9161446
Prober 30~150 degree / -10 to +150 degree.
TEL/TOKYO ELECTRON P-8 Prober是一種半導體器件prober,設計用於檢查、測量和測試各類集成電路(IC)元件。它被用於半導體器件的晶圓探測過程中,其中將探針插入器件的觸點中,以測量器件的特性。這包括電阻和電容以及其他參數。TEL P8 Prober是一個全自動測試站,配備了快速計算模塊、精確掃描控制機制、高分辨率圖像處理設備以及強大的基於軟件的分析套件。它為用戶提供了一個完整的系統,能夠在廣泛的可編程溫度範圍內測試IC組件,而用戶幹預最少。TOKYO ELECTRON P8 Prober提供快速探針/針頭定位精度和可靠的對準檢查能力。其晶片卡盤(自動化晶片級)的設計是為了確保針壓均勻分布在芯片的接觸表面上,並最大限度地減少因不耐受樣品造成的潛在晶片損傷。卡盤可在自動或手動模式下操作,可用於調節針頭壓力和運動。TEL P-8 Prober還配備了高分辨率視覺單元,用於檢查接觸前後的針頭定位。視覺機器能夠檢測探針中的任何故障,還具有多個光源以優化測量精度。該工具安裝在堅固耐用的防塵蓋中,可在實驗室和生產測試環境中提供可靠的結果。操作簡單、用戶友好,具有直觀的觸摸屏界面,使TEL P 8 Prober非常適合專家和初學者。最後,P8 Prober為尋求可靠、準確的設備測試資產的用戶提供了一個理想的解決方案,同時還得益於一整套靈活的測量參數、直觀的用戶界面和強大的軟件功能。
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