二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #9187686 待售

TEL/TOKYO ELECTRON P-8 Prober是一種高精度的晶圓探測/測試系統，使高精度、高度自動化的晶圓測試成為可能。TEL P8 Prober是半導體生產過程的理想選擇，因為它能夠同時探測單個晶圓上的多個站點，從而能夠用於開發、原型和生產多個半導體產品。TOKYO ELECTRON P 8 Prober包含晶片級,精度高達5 μ m,晶片的真空鎖定可實現無卡盤處理,以及6軸直線電動機驅動,以實現高精度。它還能夠以10 μ m的精度提供準確的測試結果，並配備獨立的偏置測量能力，用於高壓電和低壓電表征。P-8 Prober還具有自動晶片識別系統和自動對準晶片的視覺識別系統。Prober還支持範圍廣泛的晶圓尺寸，最大200毫米晶圓直徑和小型2英寸晶圓探測可能。TEL P-8 prober還提供了復雜的宏編程功能，允許多個程序結構、基於操作碼的程序編寫和用戶宏。此外，TEL P8 Prober提供了一個掃描控制選項，允許用戶獲得自動和引導位置掃描功能。它還支持多種探測模式,包括動態、靜態和接觸/非接觸式探測模式。TEL/TOKYO ELECTRON P8 Prober提供晶片邊緣補償，確保測試結果的準確性，並提供50 kHz的測量速度。它還包含了一個「交換卡盤」功能，用於快速交換不同晶圓大小的傳輸卡盤。P8 Prober是半導體生產工藝的完美解決方案。其令人印象深刻的特性和性能組合，使其成為生產半導體產品的理想之選。它能夠快速準確地測試不同的晶片，並提供準確的測試結果，讓用戶改進生產流程，創造出可靠的半導體產品。