二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #9238931 待售

TEL/TOKYO ELECTRON P-8是一種廣泛應用於半導體製造工業的prober設備。它旨在提供準確可靠的半導體器件參數測量，如電氣測試和接觸電阻。具體來說，TEL P8 prober可用於晶圓級接觸探針測量，用於晶圓級器件表征，包括高頻（HF）電測試。此外，其自動接觸探針系統適用於半導體晶片的電阻和接觸電阻的測量，包括拋光和金屬化試驗。TOKYO ELECTRON P8 prober的設計提供了廣泛的設備測量，具有穩定的電氣環境和先進的功能。它具有多個prober級，以適應不同的晶片類型，包括矽和復合材料。對其接觸階段進行了優化，以提供可靠的接觸成形和等離子體誘導沈積，同時其探頭機制確保了接觸尖端的重復定位。此外,其精心設計的探針支架解決方案提供了廣泛的試驗臺配置,以滿足特定半導體器件的獨特需求。Prober系統配備了各種工具分析，如自動OCR掃描和圖像捕捉工具，允許用戶在測試過程中快速檢查設備。此外,該單元還提供了一個交互式圖形用戶界面,允許用戶以交互式方式可視化和修改其測試場景。此外,它還允許自動晶圓交換,以便在TEL主機和Prober之間直接交換晶圓以進行快速測試/修剪/打包操作。TEL/TOKYO ELECTRON P8 prober還具有先進的激光基測量功能。可以針對特定於設備的測試場景和溫度管理對多通道烤箱進行修改,而其高級參數化測試套件允許用戶同時捕獲參數化和功能性影響。此外，它的探針卡機設計，以防止電磁幹擾，並允許多個觸點並行進行更快的測試和精確的測量。TEL/TOKYO ELECTRON P8是一種可靠且功能豐富的prober工具，適用於廣泛的半導體制造和測試操作。它的先進工具和技術使用戶能夠獲得準確和一致的結果，而其先進的溫度、探針和基於激光的測試使用戶能夠同時捕捉參數化和功能性影響。