二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #9401506 待售

TEL / TOKYO ELECTRON P-8
ID: 9401506
Wafer prober VIP3.
TEL/TOKYO ELECTRON P-8是一款先進的prober,旨在支持廣泛的技術節點和工藝材料。憑借其高速運行,可以提供高精度的測試和探測服務。TEL P8 Prober的設計旨在提高操作可靠性、縮短周期時間和提高信號完整性。TOKYO ELECTRON P 8由介電和晶圓級的prober、stage module和處理程序接口組成。介電加速器具有光柵掃描儀、直接加速器技術和高精度多級卡盤。它能夠探測多達66條µm線和空間,在≤ 3 µm厚的電介質層中精度優於0.1 µm。晶圓級探頭可用於測量光刻圖樣、MEMS/NEMS結構和電源設備組件的電性能。該級模塊提供晶片的快速沈降和精確放置,提供300晶片/小時的高吞吐量。TEL P 8還將自動晶圓級測試和探測與基於PCI的檢測設備(IBIS)集成在一起。它可以測量漏電電流、電容、電感和電阻等參數,從而能夠在大型基板上進行自動化的串聯參數測試。此外,TOKYO ELECTRON P8融合了背面液晶顯示(LCD)圖樣化和集成芯片級熱表征等技術。再者,P8配備了多種高速光學成像工具,如UV微點投影系統、高分辨率光學檢測子系統和數字成像子系統。在安全性方面,TOKYO ELECTRON P-8包括一個防禦級的Prober故障檢測單元和一個帶有靜態控制傳感器的試驗站。它還提供無中斷控制機器,確保操作員的註意力始終指向特定的測試站或設備。這些高級特性的結合使得P-8成為故障分析、參數測試和質量控制的理想工具。
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