二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #9407573 待售

TEL/TOKYO ELECTRON P-8是TEL Limited專門為半導體晶圓測試而設計的一款prober。它用於晶圓正面和晶圓背面屬性測試。該設備以最新的FE-SEM（場發射掃描電子顯微鏡）技術為基礎，提供卓越的高分辨率成像、成像速度以及大的X-Y采樣區域。該系統具有高精度的prober功能和高級功能,是測試各種設備和組件的理想選擇。在晶圓表面上進行測試時,該單元可提供最佳的穩定性和準確性。它具有一個樣品加載機制，使可變排列，安全和精確的樣品探針。集成的框架集設計支持樣品探針連接基座的安裝，實現了快速、方便的樣品探測。該機還采用摩擦板設計，可降低接觸力，提高樣品處理速度。內置的可編程TEL P8控制器有助於探針的自動化過程，並為樣本對準和可編程運動提供指導。該控制器進一步配備了多種通信接口，允許數據傳輸到其他網絡、測試系統以及其他通信協議。另外，TOKYO ELECTRON P 8有能力進行效率高、啟動速度快的晶圓測試。該工具最多使用三個晶圓直徑和各種樣品到探針的配置。它還提供了高效的測試能力，得益於內置的加熱機制和超低溫技術。由於資產的超高掃描分辨率,因此完成的測試結果非常準確。這使得它非常適合微電子行業的精密測試。最後，TEL/TOKYO ELECTRON P8提供了一種主要為工業目的而設計的靈活而堅固的電纜模型。互連設計為能夠很好地保護免受潛在損壞,模塊化電纜設計提供了方便的維護和維修。總而言之,這款Prober是一款高性能、易於操作、高效的設備,可提供可靠、準確的測試結果。