二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-8XL #293791496 待售

TEL/TOKYO ELECTRON P-8XL是為各種半導體製程材料測試而設計的先進prober，例如切塊和探測。該探針用於監測和測量關鍵過程中晶片、模具和其他設備的特性。在性能、準確性和可靠性方面,Prober的設計符合業界最高的標準。TEL P8XL prober提供快速、準確和可重復的測量和測試,以確保通過關鍵流程制造的設備符合客戶規範。測試和測量系統配備了最先進的探測頭、精密級和光學系統。Prober的頭部配有高分辨率運動臺、激光位移傳感器和基於MEMS的光學詢問系統的組合。運動級和激光位移傳感器可實現快速、精確的探測,並允許對設備表面的任何凹痕和標記進行高精度測量。TOKYO ELECTRON P8-XL還具有自動過程校正（APC）功能,即使在大型晶圓模具中也能高速跟蹤模具位置和測量精細壓痕。由於其集成的運動軸，任何精細的細節塗層，或掉落的模具都可以快速補償。Prober配備了多種類型的階段，包括多物理階段、CMOS狹縫掃描階段、CradleSet階段、激光切割階段和探針卡支架。多物理級確保晶片/模具表面均勻平坦。CMOS狹縫掃描級允許prober相對於晶圓精確對準和放置。CradleSet級用於精確掃描和測試光掩模上的模具模式。激光切割階段允許晶片的重復切割和定位。探針卡支架支持多種數據引腳配置,提高了測試的準確性和靈活性。TOKYO ELECTRON P-8XL采用柱式視頻顯微鏡和強大的模具檢測用戶界面設計。它配備了先進的光學器件和高分辨率相機，以捕捉和檢查正在測試的晶片的特性。顯微鏡還以各種放大倍數提供晶圓和模具表面的詳細圖像，使操作員能夠驗證被測試晶圓的特征。TOKYO ELECTRON P8XL是一種高度可靠和通用的PROBER,設計用於精確測量和測試各種半導體工藝材料。憑借其廣泛的功能,它確保了客戶設備規格的高精度、準確性、可重復性和可靠性。