二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-8XL #9193119 待售
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單擊可縮放
ID: 9193119
晶圓大小: 5"-8"
Fully automatic wafer prober, 5"-8"
Voltage hot chuck: Ni Hi
WAPP
Probe card cleaning plate & brush
Semi automatic card changer
Indexer slide loader
Wafer prealigner
Wafer Table
Media handler: Wafer
Boards:
GPIB
VIP3A
CPU
Interface: Credence quartet tester
PTPA Accuracy: +/- 4.0µm
PTPA Z Accuracy: +/- 5.0µm
Inspections:
Ink dot
Probe mark
Power: 220 V
Frequency: 50/60 Hz
Current: 7.5 A.
TEL/TOKYO ELECTRON P-8XL prober是一種高度先進的基於激光的晶圓接觸式prober,能夠探測先進晶圓技術的嚴格接觸要求。它是為精確和可重復性而設計的,使用了一種緊湊的光學偏轉設備,可以進行精確的掃描和精確的運動控制,以進行快速晶圓測試。利用其獨特的對準系統,TEL P8XL prober可以自動對準任何目標站點,對先進的晶圓技術進行準確、可重復的測試。晶圓接受率超過98%,利用激光定位單元將晶圓精確對準探頭,從而最大限度地降低測量誤差。TOKYO ELECTRON P8-XL還能夠探測和分析具有八角形凸點的晶圓,並為用戶提供用於可重復測量的高精度同步掃描和用於多接觸探測的低延遲標線掃描。TEL/TOKYO ELECTRON P8-XL還具有高分辨率雙號彩色液晶顯示屏,用於在本機或塊測試模式下查看樣本圖像、統計信息和測量數據。其原子級預對準技術(A-L-PAT)使用多個相機,包括板載和板載,以確保WAFER的精確對準和校準,並最大限度地提高精度。板載模具位置隨後可監控和控制X、Y、傾斜角、激光功率和TFR偏差校正等多達6個軸。P8XL使用雙光束掃描機,同時配備激光和微米定位器。激光定位器用於探測和成像晶圓,而微米則用於定位探針和將晶圓加載到舞臺上。此外,P-8XL可以安裝一個特殊的接觸探針,以幫助測量大模具半導體芯片和精確映射晶片表面。TEL P-8XL Prober具有廣泛的功能,為晶圓探測、成像和測量提供卓越的性能、準確性和可重復性。TEL/TOKYO ELECTRON P 8 XL憑借其先進的功能和高質量的組件,能夠滿足最嚴格的測試要求,並為用戶提供當今晶圓探針的最高性能和準確性。
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