二手 TEL / TOKYO ELECTRON PR200Z #9146543 待售

TEL/TOKYO ELECTRON PR200Z prober是一種全自動、高精度、晶圓探測設備，能夠測試各種各樣的半導體和集成設備。該系統具有25 µm xy線性級，實現了自動最小探測力控制和接觸調節。它能夠分析和測試各種半導體器件,包括但不限於DRAM、SRAM、閃存、電源設備、模擬和數字設備。TEL PR200Z Prober配備了高效可靠的自動加載/卸載（A/U）單元,可自動向Prober提供測試晶片。這臺機器具有集成的X-Y運動控制和高效的插入過程。螺旋槳可裝載直徑達200毫米的晶片，是測試大型晶片的理想選擇。該探頭設計用於潔凈室環境，這意味著只有潔凈室特定的清潔和安全協議才能確保探頭的正常運行。此外,TOKYO ELECTRON PR200Z prober還采用了包括自動換標線（ARC）和雙軸板校正（DAPC）在內的先進技術。有了這些技術,Prober可以保持3 μ m或更低的高精度.由於PR200Z Prober緊密集成的自動加載/卸載（A/U）工具,它能夠自動放置晶片、執行測試和收集數據。該資產配有高分辨率相機，用於測量和分析晶圓基板上的器件尺寸。此外，還提供了一個精確的視覺對準模型來確定晶圓基板在螺桿上的確切位置。該prober提供了用於自動測試和數據分析的強大軟件設備。它還提供了廣泛的自定義程序選擇，允許用戶自定義自己的測試和評估方法。這些可編程參數包括測試探測器配置、延遲時間、強制力和測量數。TEL/TOKYO ELECTRON PR200Z prober為半導體器件的高精度測試提供了強大的技術能力。它結合了自動加載系統、高分辨率攝像頭和精確的運動控制,使TEL PR200Z能夠準確、一致地測試各種設備。它具有可編程功能和自動化功能，是半導體器件研發的理想選擇。