二手 TEL / TOKYO ELECTRON PR200Z #9157625 待售

TEL/TOKYO ELECTRON PR200Z是一種用於對半導體晶片和模具進行測量的探針。它是一種非接觸成像設備，使用高分辨率光學顯微鏡快速捕捉晶圓凸點分析和缺陷檢測的高分辨率圖像。Prober設計用於生產過程和研發實驗室。TEL PR200Z Prober擁有一個200 mm的大晶圓臺，一個先進的集成視覺系統，配有CCD攝像頭和專用的應用軟件，以及一個高精度的運動控制器，以確保晶圓的精確移動。它配備了八個獨立的電動級和一個XY θ臺，為晶圓對準提供了各種選擇。螺旋槳具有可調節的粗細旋鈕，可精確定位，有定位燈和主軸轉速指示器，便於取樣。它還包括一個光學字符識別（OCR）單元，可用於識別晶圓上可視覺導入的文本。TOKYO ELECTRON PR200Z Prober旨在提供高效的吞吐量和高性能。它使用20nm的可重復性在大面積上快速掃描晶片。它還具有快速測量模式來加速映射過程，並具有可編程邊緣檢測功能，可以同時快速識別和測量顛簸和顛簸。此外，PR200Z Prober還配備了自動對焦機、增強型放大鏡、自動對準和擺動校正、模具評審、一鍵補償、雙通道圖像縫制等多種先進功能，可快速準確掃描分析。TEL/TOKYO ELECTRON PR200Z Prober兼容TEL綜合範圍的集成EDA（探測和表征）軟件，使測試過程自動化，以確保準確和可重復的結果。EDA軟件包括用於設置和執行測試、分析結果和生成報告的功能。它包括了廣泛半導體結構的測量能力，如光刻、晶體管、電阻器等。Prober是研發實驗室組件可靠性測試的經濟定價解決方案。