二手 TEL / TOKYO ELECTRON PR300Z #293821718 待售

TEL/TOKYO ELECTRON PR300Z是專門為半導體晶圓測試而設計的最先進的載體。Prober能夠測試單、雙、三級晶片的頂級高功率半導體器件如晶體管、二極管和BJT。TEL PR300Z最大晶圓尺寸為30mm，最大晶圓厚度為2.5mm，總厚度為1.6mm。它具有高靈敏度的晶片邊緣檢測器，用於晶片的精確對準。TOKYO ELECTRON PR-300Z具有200納米真空感應檢測精度,以及先進的熱成像系統,可快速識別晶圓上的溫度變化、裂紋和缺失組件。其專利的熱驗證系統（TALV）提供了晶圓溫度的徹底現場檢查,允許用戶確保其設備正常運行。TALV還允許在同一批中實施試點晶片運行,以確認在開始生產之前過程設置的適用性。該方法在主動檢測晶片上的小缺陷和小缺陷方面非常有效，從而能夠快速進行幹預和解決。TOKYO ELECTRON PR300Z還具有可調型材功能，可以讓用戶快速調整prober的探頭力、補償壓力和接觸力。此功能有助於確保無論晶片之間的差異如何都可重復接觸力,從而實現一致的測試。此外，PR300Z具有晶片模式的測試信號掃描能力，允許對各種功能進行過程驗證測試。PR-300Z是一個高度可靠和先進的PROBER,具有廣泛的功能,使其適合各種半導體晶圓測試應用。它易於使用和維護，使其成為任何半導體晶圓測試需求的絕佳選擇。