二手 TEL / TOKYO ELECTRON Precio #293806769 待售
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ID: 293806769
Wafer prober
Nickel plated chuck
Ambient temperature
480SQ Head plate
WAPP
Remote touch screen
Interface: GPIB
FOUP Loader, 12"
Cassette, 8".
TEL是為晶圓探測應用而設計的prober。它是一個半自動探測站,便於晶圓和其他半導體元件的精確測試。Prober的設計采用XY運動階段、高精度Z軸運動以及高速掃描設備,以適應眾多晶圓探測任務。此外,該探頭還包括一個低振動的三軸電機控制系統,以確保探測操作的最大精度。該單元還提供各種功能來支持自動晶圓探測和測試操作。它采用數字電路和模擬接口電路的組合設計,提供精確的晶圓探測和精確的晶圓面板處理。這使得它能夠使用各種各樣的晶片操作,包括標準的、CNA(Corner Notch Alignments)、非標準尺寸,以及各種非扁平的基板。該機器還允許高達4兆字節的高頻操作。這樣可以確保晶片測試和探測以所需的精度進行,以確保測試結果的準確性。該工具的用戶友好設計使用戶能夠為晶圓探測設置廣泛的探測序列。它還包含安全和監控功能,以幫助防止晶圓損壞。此外,prober帶有四個復制階段的樣品分期。這為用戶提供了各種晶圓尺寸和方向的靈活放置選項。此外,資產還包括自動匹配功能,使用戶能夠快速定位和識別晶圓中的芯片位置。這有助於確保獲得最準確的測試結果。該程序還具有靈活的過程環境,具有各種數據采集選項,如晶圓對準、未對準補償、信號完整性測量、熱數據收集等。此外,此prober經認證符合EIA-JESD-228測試要求。這是測試產品電磁兼容性的標準。總體而言,TOKYO ELECTRON PROBER專為晶圓探測應用而設計,重點是精度和精確度。它提供了多種特性,提供精確的晶片探測和精確的晶片面板處理。該模型還具有靈活的工藝環境,以適應晶圓對準、錯位補償、信號完整性測量、熱數據收集等各種應用。此外,它還被證明符合EIA-JESD-228測試要求。
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