二手 TEL / TOKYO ELECTRON Precio #293814265 待售

TEL是為測試集成電路和子組件而設計的半導體prober。該探頭由高性能靜電和機械卡盤以及探頭組成,旨在提供超高密度探測能力和高通量性能。Prober還配備了一系列動態功能,這些功能旨在實現最高的工作效率和準確的探測操作。內置的可調分辨率和插值功能為用戶提供了根據需要調整探頭速度的靈活性。Prober的動態壓力範圍為0至1000 bar，最大插值速度為每毫秒10納米增量，可用晶圓尺寸範圍為8英寸至200 mm，傾斜範圍為0至4度，以達到最大精度和可重復性。Prober的設計確保其準確性和可重復性保持在極嚴格的公差水平內。它配置了高恒力模式和低恒力模式,允許它同時使用多個探測器動態探測。推進器采用開爾文接觸法，在整個探測過程中確保盡可能高的一致性和可靠性。接觸法依賴於接觸尖端與電子器件交界處電流的測量。此方法可確保多個探測器在測試階段與設備同時接觸。此外，接觸壓力可以由執行器調節和控制，以確保最佳接觸力和精度水平。Prober還配備了一系列內置的軟件工具和實用程序，這些工具和實用程序旨在促進測試和表征操作。高級分析工具允許用戶測量一系列參數,例如信號完整性、版本合規性和穩定性。此外,軟件實用程序還為用戶提供各種可視化模式,如圖形、圖表和表格,這些模式旨在幫助就探測過程做出更加明智的決策。TOKYO ELECTRON PROBER是一種精確可靠的PROBER,它具有多種功能,旨在簡化集成電路和子組件的測試和特性。這些功能的組合確保了最大的準確性和可重復性,同時降低了設備被錯誤保護和潛在損壞的風險。Prober還允許用戶輕松調整探針壓力和運動，為他們提供最高水平的精度和結果。