二手 TERADYNE ESI-1004N #9246707 待售

TERADYNE ESI-1004N Prober是一種先進的測試和測量設備,旨在為探測集成電路（IC）封裝提供全面的解決方案。ESI-1004N Prober是一個獨立的高級Prober,具有25 cm2的自動化電動晶片級,允許自動晶片處理和探測操作。它能夠在400 MHz的頻率響應和精確的Z軸伺服控制下執行單站點和多站點探針操作。該處理器通過自動平臺配方編程、固定階段對準以及專門為高頻設備測試設計的高級晶圓映射和探測技術提供增強的吞吐量。TERADYNE ESI-1004N Prober配備了先進的電子測試頭,可提供最高的精度和可重復性,滿足最苛刻的測試要求。此測試頭利用多個耦合器來支持多達128個數字輸入和輸出,以及4個電容式觸控墊,用於要求最苛刻的電氣測試應用。此外，測試頭還包括一個精細的參數設置調整功能，使測試參數的控制更加精確。ESI-1004N Prober配備了先進的信號完整性系統，為大功率數字測試提供了優化的對準和校準。先進的信號完整性單元利用四個專用的校準傳感器在前導頭內，提供卓越的高頻性能。信號完整性機還提供先進的熱管理，為卓越的長期性能提供穩定的溫度控制。此外,TERADYNE ESI-1004N Prober還配備了高效的視覺工具,該工具旨在為標準和MEMS軟件包提供極高的精度和可重復性。此視覺資產提供條形碼掃描、封裝識別、角度視覺、熱成像和激光測量等功能。視覺模型與強大的圖像處理器和視覺庫集成在一起,可進一步定制和編程。此外,ESI-1004N Prober還包括TERADYNE Probe管理軟件,它提供了廣泛的設備診斷和優化工具。此軟件提供了一個全面的圖形用戶界面,允許輕松操作和設置TERADYNE ESI-1004N Prober。所有系統數據記錄功能都可以通過直觀的軟件界面訪問，從而在控制復雜測試時提高效率。ESI-1004N Prober旨在縮短產品上市時間,提高復雜應用的晶圓產量。這個先進的自動化prober單元通過自動晶圓處理和測試操作提供了更高的吞吐量、準確性和可重復性。TERADYNE ESI-1004N Prober是一個全面的測試平臺,旨在為最苛刻的測試需求提供極其精確和可重復的結果。