二手 TSE / MPI LEDA-6SFA #293757354 待售

TSE/MPI LEDA-6SFA是專門設計和開發用於先進半導體生產過程的一種載體。它是檢查和測試尺寸從0.5mm到120mm的集成電路（ICs）以及探測小至25微米區域的理想載體。Prober具有六軸運動設備,可以對不同的設備結構進行精確、可重復和快速的探測。這種運動系統允許螺旋槳有效地訪問設備上的不同點，同時也補償晶圓傾斜和俯仰。該光學單元的設計是為了減少整體沈降時間和提供卓越的精度。此外，prober使用多級對齊技術。這使得prober可以對齊不同晶圓方向的多個平面。高水平的對齊精度可確保在下一級設備上準確放置觸點。Prober還具有獨特的高速多模具prober,可同時對多模具進行快速探測。這種多模具可以精確地訪問和探測即使是最具挑戰性的高收益率設備。Prober還使用低噪聲架構，這有助於減少噪聲幹擾並確保高產率。該探頭設計有多個探頭，每個探頭提供獨立的獨立接觸壓力調節和可重復接觸壓力。這有助於減少接觸損傷,並允許更精確的探測。Prober還使用了高性能的閉環晶圓跟蹤機。此工具在探測困難模具時提供了無與倫比的精度。此外,它還包括一個遠程校準模塊,允許客戶監視和分析prober的性能。總體而言，TSE LEDA-6SFA prober是對先進半導體芯片進行精確、高產探測和檢測的理想解決方案。其高速多模具處理器、精確的對準資產、低噪聲體系結構和遠程校準模塊使其成為生產過程中的絕佳選擇。