二手 TSE / MPI LEDA-6SFA #9395487 待售
網址複製成功!
單擊可縮放
TSE/MPI LEDA-6SFA是一種用於電子設備自動模具或封裝級接觸測試的接觸/非接觸式prober。這項先進的Prober技術提供了全面的應用,包括測試界面、接觸式測試、模具級測試、最終船舶測試、探測、模塊插入和移除分析、功能和接觸式測試、燒入和模擬、自動對焦控制、高速接觸精度評估、應力/接觸周期測試以及熱沖擊測試。TSE設計LEDA-6SFA為了達到半導體行業質量和精度的工業標準。該模型是一個完全自動化的設備,為晶圓和其他電子設備的模具級測試提供了一個完整的六軸級。該型號配備了集成的模具級探頭、接觸傳感系統,以及由最先進的數控控制器控制的自動晶圓移動器。作為額外的好處,它還可以配備廣泛的探測機制,以滿足特定應用的需求。該模型允許手動模具/封裝對準和自動對焦控制。MPI LEDA-6SFA具有2.85 μ m步長精度、10 MHz數據速率和卓越的模具級測試儀精度。此外,它還具有高速熱沖擊能力,可以一次快速測試多達100個晶圓。該設計還采用了最新的隔離技術,確保相鄰設備或設備發出的任何電噪聲不會幹擾測試過程。LEDA-6SFA還提供了完整的測試功能,包括內置功能測試、接觸測試、Wi-Fi測試、攝像頭測試、IC測試、軟驅測試和OEM測試協議。這些功能允許在單個集成單元中使用全面的測試平臺。TSE/MPI LEDA-6SFA配備了獨特的機器配置,可以用於各種應用。總體而言,TSE LEDA-6SFA是一種先進的prober技術,旨在滿足半導體行業的高標準。憑借其卓越的精度、廣泛的測試能力和全面的應用,它是電子設備接觸/非接觸測試的理想解決方案。
還沒有評論