二手 TSE / MPI LEDA-8F 3G #9181633 待售

TSE / MPI LEDA-8F 3G
製造商
TSE / MPI
模型
LEDA-8F 3G
ID: 9181633
Semi-auto wafer prober.
TSE/MPI LEDA-8F 3G是一種用於半導體器件制造和測試過程中的prober。它配備了功能強大的工業PC,允許在自動化環境中進行精確的探針測試測量。該設備還采用了最新的探針卡技術,在每一個測試周期都提供了卓越的重復性和準確性。TSE LEDA-8F 3G的主要組件包括空間運動系統、控制器、測試儀、通用接口總線(GPIB)、數字以太網和自動處理器。空間運動單元由具有6軸線性定位器的3軸線性驅動器和跟蹤prober精確位置的編碼器機組成。此工具可以支持多個探針卡,從而實現快速而準確的測試。控制器是利用LINUX操作系統,提供高度直觀的軟件控制的多核處理器。這允許在測試點進行更高速度的數據處理,而無需外部測試PC。它還使MPI LEDA-8F 3G能夠提供更復雜的測試語言來滿足測試要求。該測試儀是適用於大多數測試應用的高速數字測試儀。它可以進行廣泛的測試,如多通道數字、模擬、機電和定制測試。該測試儀還能夠提供直流和交流測試信號。此外,可編程測試儀可以生成空白波形,從而可以開發新的設備而無需新的補丁電纜。LEDA-8F 3G還帶有用於遠程連接的GPIB。這允許TSE/MPI LEDA-8F 3G連接到半導體晶圓測試儀等外部測試系統。此外,還提供了一個數字以太網連接,它允許設備之間的高速數據傳輸。最後,TSE LEDA-8F 3G配備了5軸伺服電機控制資產打造的自動螺桿。這樣可以使測試儀精確、快速地移動,並使自動測試成為可能。該模型能夠同時測試晶圓和托盤級設備,使其適合許多測試需求。MPI LEDA-8F 3G prober是需要可靠、高效測試解決方案的制造商和測試人員的理想解決方案。憑借其卓越的準確性和可重復性、高速遠程測試以及自動化功能,它為企業提供了多種提高生產和提高測試質量的方法。
還沒有評論