二手 TSE TPS7 #9143294 待售
網址複製成功!
ID: 9143294
優質的: 2013
Probe & sorter
T2002SFA
LED tester: 1 Ch
60 V, 2 A, T1024 spectrometer
Integrating sphere: 4"
(8) Cassettes
(25) Bin frame
(10) Wafer frame
Expended wafer test system: Up to 4"
Voltage: 220 VAC, 10 A
2013 vintage.
TSE TPS7是一種專門為測試熱應力下的集成電路而設計的處理器。它是測試高功率VLSI和3D芯片設計的理想選擇。TPS7是一種先進的熱力分析儀,具有廣泛的特性和功能。TSE TPS7具有集成的緊湊型落地式設計,包括高速熱電偶和精確掃描功能,可依次測量高探針密度下的熱性能。TPS7具有高精度和可靠性,非常適合各種IC測試應用。TSE TPS7配備高靈敏度非接觸式紅外照相機,能夠探測小至0.1°C的熱梯度和溫度變化,以及用於精確成像測試樣品的高分辨率數碼照相機。該機器的數據采集和測井系統每秒最多可處理30,000次測量,以進行廣泛的溫度測試和表征。TPS7還具有獨特的高精度RTD來測量溫度變化和計算組成比。這個先進的prober包括一個集成的熱測量包,一個精確的溫度控制器,和一個精確的熱梯度測量功能。此外,TSE TPS7還提供精確的熱映射,使工程師能夠映射和分析各種IC中的溫度分布。TPS7具有用戶觸發的快速、可重復的溫度配置文件,測試可修改的時間範圍最長為5秒。此外,機器還提供了多個用戶定義的平均調度,用戶可以快速測量復雜的熱參數。TSE TPS7還提供了一個廣域數據日誌記錄,它記錄跨多個位置的熱數據。此外,該探頭支持最多八個外部測量的熱電偶通道,以進行額外的熱傳感。TPS7是對集成電路進行高級測試和表征的有力工具。它的集成系統為各種集成電路提供精確的熱測試和測繪,並提供可靠的數據以快速準確地進行表征。該機器具有出色的性能、準確性和可靠性,可滿足復雜的IC測試要求。
還沒有評論