二手 WENTWORTH CMP-100 #114331 待售

WENTWORTH CMP-100是一種為矽集成電路器件的測試和探測而設計的處理器。該工具使用低k電介質、粘合鋁、C4s和BGA焊球來測試和探測先進的半導體器件。CMP-100利用各種先進技術來精確控制每個探測器的行程,並將所需的電壓和電流水平準確應用於被測設備。WENTWORTH CMP-100配備了獨特、高精度、低k介電（LKD）材料，在信號追蹤、信號分支和設備成像等方面提供各種好處。這種材料的開發是為了解決集成電路設計日益復雜的問題，並允許更高的信號追蹤和傳播精度。另外，LKD材料還產生信號分支和設備成像結果，可以比其他探針更準確。這prober也能夠探測具有不同BGA焊球間距的設備，精度高達2.5微米。CMP-100的高精度和校準能力允許進行最精確的探針定位，從而產生盡可能最準確的測試結果。WENTWORTH CMP-100還采用了先進的C4技術,能夠對多層/復雜組件進行快速高效的電氣探測,以及結合鋁技術,能夠快速高效地探測難以到達的位置。除了精度和準確性外,CMP-100還具有多種安全功能,如過度保護電路,以防止損壞被測設備。此外,WENTWORTH CMP-100還具有各種用戶友好的功能,例如用戶友好的界面和健壯、可擴展的測試系統。這些功能使CMP-100成為測試和探測高級設備的寶貴工具。