二手 AMAT / APPLIED MATERIALS 7830 #9384839 待售

AMAT / APPLIED MATERIALS 7830
ID: 9384839
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM).
AMAT/APPLIED MATERIALS 7830是一種掃描電子顯微鏡,或稱SEM,用於高分辨率成像和分析多種材料的表面輪廓。它配備了一系列探測器和一個場發射槍(FEG)電子源。這使它能夠產生高分辨率圖像,放大倍數範圍從10 ×到20,000 ×。此外,它還具有在納米級分析材料的微觀結構、薄膜厚度和組成的先進能力。AMAT 7830 SEM的核心部件包括電子源和多種探測器。其堅固的電子源可實現出色的圖像分辨率、亮度和對比度,並支持對包括無機和有機材料在內的多種材料進行高分辨率成像。利用它的各種探測器,APPLIED MATERIALS 7830可以檢測到不同材料地形的顯著差異,檢測到甚至像小粒子和微結構這樣非常精細的特征。它還提供了反向散射電子(BSE)成像,用於分析薄膜厚度,以及能量色散X射線(EDX)分析,可以提供有關所研究材料元素組成的信息。7830具有對其性能和可用性都有利的功能。其數字接口和相差成像顯示能力使其易於使用,而其集成的光學和計算機控制的檢測提供了對成像參數的精確控制。此外,SEM還具有高速自動對焦功能和存儲圖像數據的功能,以便以後進行比較。它還具有用於精確樣品定位的自動化階段和用於最大圖像質量的精確z軸移動。AMAT/APPLIED MATERIALS 7830是研究多種材料的納米級結構的通用工具。它的高分辨率成像、自動化階段和廣泛的探測器使它成為分析納米級薄膜和其他微觀結構的有效方法。AMAT 7830是研究人員尋找可靠、通用SEM的理想選擇。
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