二手 AMAT / APPLIED MATERIALS Opal 7830 #9238602 待售

AMAT/APPLIED MATERIALS Opal 7830掃描電子顯微鏡（SEM）是一種功能強大且用途廣泛的分析工具,用於提供各種材料內部結構的詳細三維圖像。它提供了無與倫比的特性來分析和表征各種材料和過程。SEM包括一個集成的單色場發射電子槍（FEG），它提供遠束電流和最小的熱擴散，允許在最低電子束加速電壓下的最高分辨率成像。7830 SEM具有可變光斑大小,可提供可變景深、可變分辨率和可變樣品表面覆蓋。它還配備了一個柱頭來校正光束冷凝器像差，使其與可比的SEM系統區分開來。該裝置配有集成電子槍，提供高亮度和角度穩定的光束。這可以實現極高的圖像分辨率,並且通過利用EIG的長壽命,用戶能夠記錄99秒的長掃描時間以生成並發ESD信號。7830采用特別設計的雙光學設計,產生的圖像與傳統的掃描電子顯微鏡（SEM）相比具有更高的對比度和清晰度。7830 SEM能夠在6.0 kV時實現0.5nm的更高空間分辨率,因此非常適合需要超高性能的應用。利用其自動化的標本傳輸系統，用戶有能力快速更換標本，優化工作流程。7830因其先進的EIG技術而使用壽命較長，而其針對設備各種特性的電動控制範圍使其簡單易用。7830還可用於進行雜質分析以檢測半導體材料中的汙染。它具有探測顆粒和缺陷到0.1µm大小的能力，能同時進行能量色散X射線光譜（EDS）和分析掃描（AS）。7830配備了一系列工具，為多個行業的先進研究和工程提供支持。這些工具包括先進的圖像采集系統、實時圖像分析、3D圖像重建、圖像量化以及自動生成報告。AMAT Opal 7830 SEM對於那些尋求具有最大通用性和卓越性能的頂級SEM的用戶來說是一個理想的選擇。其無與倫比的靈活性和技術能力使其成為廣泛的材料研究和分析應用的理想選擇。