二手 AMAT / APPLIED MATERIALS OPAL 7830I #9226431 待售

ID: 9226431
Scanning Electron Microscope (SEM), parts system Needs detector and tip Missing parts.
AMAT/APPLIED MATERIALS OPAL 7830I是一種先進的掃描電子顯微鏡(SEM),設計用於半導體行業的精密成像和分析。這臺設備提供亞納米分辨率(窄尺寸<4 nm),對細節觀測的靈敏度提高,大大超過傳統掃描技術。該系統具有分析能力,內置聚焦離子束(FIB)和電子束光刻(EBL)能力。它既提供納米級樣品制備,又對埋在密集樣品中的物體進行目視分析。該單元具有高精度3軸機械級、大型動態範圍數字探測器、尖端電子光學系統等多種特點。這臺最先進的機器允許微調光束能量和光斑大小,以滿足客戶的特定成像需求。AMAT OPAL 7830I具有高分辨率場發射槍(FEG),可提供穩定的電子束,並提高能量分辨率和光斑尺寸。它具有內置的能量濾波器控制,有助於選擇合適的成像能量。電子光學系統具有可調散光和球面像差的微調。電子光學工具具有大目鏡和可調對比度控制,最大限度地提高圖像質量。該資產集成了硬件、軟件和固件組件,所有這些組件均可實現穩定性和最佳性能。該模型具有快速的高精度采樣級和數碼CCD相機,允許在亞納米級進行精確觀測。此外,FIB還有一個專門設計的波發生器,用於原位沈積和蝕刻。廣泛的動態範圍CCD探測器設置提供了無與倫比的靈敏度和對比度。這樣,成像與早期成像系統相比得到了改進。APPLIED MATERIALS 7830I可以輕松地與CAD系統和自動化的機器人樣品處理相結合,從而實現高吞吐量和可重復的結果。該設備具有自動化功能,可減少設置時間並提高準確性。機載腳本技術允許客戶自定義測試並提高工作流程的速度。最後但並非最不重要的是,該軟件允許集成到其他成像應用,如電子反向散射衍射(EBSD)和能量色散X射線(EDS)。這些功能使APPLIED MATERIALOPAL 7830I能夠提供高分辨率成像功能,同時保持半導體行業所需的可靠性和高精度。它是當今市場上最先進的掃描電子顯微鏡,為最苛刻的工業項目提供優越的成像和分析。
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