二手 AMAT / APPLIED MATERIALS VeritySEM 4i #9267330 待售

ID: 9267330
晶圓大小: 12"
優質的: 2010
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM), 12" 2010 vintage.
AMAT/APPLIED MATERIALS VeritySEM 4i掃描電子顯微鏡(SEM)是一種高性能、高分辨率的成像和分析系統。4i是一種可變壓力SEM(VP-SEM),使研究範圍廣泛的樣品和樣品,從全水合有機樣品到無機和金屬化樣品。15 kV時的4i分辨率為3.2 nm, 1 kV時的分辨率可提高到0.6 nm,以實現精細結構的最佳成像。4i配備了X電極檢測器和4象限反向散射檢測器,使用戶能夠測量樣品的材料組成和地形。X-elerator探測器的聚焦光束光斑大小小於1微米,視野高達25微米。4象限、反向散射探測器具有20微米的視野,適合大面積、高靈敏度成像和照明。4i支持廣泛的SEM模式,包括可變壓力成像、加速電壓成像、可變孔徑成像、超快成像和帶相位對比度成像。4i還支持可選的低真空(LVP)模式,用於研究水合樣品和其他細膩材料,如那些難以與常規SEM成像的材料。4i能夠在空氣中成像樣品,提供了消除真空室需求的優勢。4i由功能強大、基於Windows的VeritySEM Workstation軟件控制。該軟件旨在為用戶提供一系列用於樣本成像、分析和測量的工具。VeritySEM Workstation還具有強大的腳本引擎,允許用戶自動執行常規操作並優化樣本準備。4i是廣泛的材料測試和成像應用的絕佳選擇。它提供高性能、準確的數據,並提供多種自動化功能來簡化操作。4i提供了強大的成像和分析系統,使其成為任何材料測試和成像實驗室的理想選擇。
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