二手 AMBIOS Scanning Probe Microscope #293814054 待售

AMBIOS掃描探針顯微鏡（SPM）是屬於掃描電子顯微鏡（SEMs）家族的一種尖端儀器，用於納米級的高分辨率表面成像和表征。這種先進的工具依靠掃描隧道顯微鏡（STM）和原子力顯微鏡（AFM）技術相結合，以達到優於傳統SEM的成像質量和分辨率。AMBIOS SPM設計精密多功能性，以滿足科學界在材料科學、納米技術、生物學和半導體研究等各個領域的多樣化需求。AMBIOS SPM的主要特征包括安裝在柔性懸臂上的尖銳探針尖端,它與樣品表面相互作用以收集有關表面地形、材料組成和磁性的信息。以系統的方式在整個樣品曲面上掃描探針尖端,生成具有卓越細節和準確性的3D圖像。儀器還提供了接觸模式、敲擊模式、非接觸模式等一系列操作模式，允許用戶根據樣品的具體要求定制成像參數。AMBIOS SPM配備了先進的成像軟件,能夠實時顯示表面特征,並便於定量測量的數據分析。該軟件提供了圖像處理、表面粗糙度分析和距離測量的工具，使研究人員能夠從捕獲的圖像中提取有價值的信息。此外，該儀器還提供了進行各種光譜技術的能力，如掃描電容顯微鏡（SCM）、掃描開爾文探針顯微鏡（SKPM）和掃描熱顯微鏡（SThM），擴大了從樣品中獲得的應用範圍和洞察力。AMBIOS SPM的一個區別因素是其高空間分辨率，達到原子水平，這使得研究人員能夠以無與倫比的細節研究表面結構。該儀器提供亞納米分辨率，是研究納米級現象和精確分析納米結構的理想選擇。此外，AMBIOS SPM設計便於與其他分析技術集成，如能量色散X射線光譜（EDS）、二次電子成像（SEI）和陰極發光（CL），增強了全面樣品表征的能力。除了成像能力外，AMBIOS SPM還配備了在溫度、濕度、氣體成分等受控環境條件下進行現場實驗的功能。這種功能使研究人員能夠實時研究樣品表面的動態過程，並調查外部刺激對物質性質的影響。該儀器可在超高真空（UHV）環境或氣體大氣中操作，為廣泛的研究應用提供了靈活性。總體而言,Scanning Probe Microscope是用於高分辨率表面成像和分析的最先進的工具,為納米技術、材料科學和相關領域的科學研究提供卓越的性能、多功能性和可靠性。AMBIOS SPM憑借其先進的功能、超高分辨率和獨特的功能，為掃描電子顯微鏡設定了新的標準，以前所未有的細節和精確度開辟了探索納米世界的新機遇。