二手 AMRAY 1000 #155989 待售
網址複製成功！
單擊可縮放
ID: 155989
Scanning electron microscope
Upgraded EDS detector
Kevex data level 2 analysis
Spectrum analysis
EDS imaging
Included upgrades:
Upgraded Iridium II microanalysis system (EDS) in early 2000's with:
P/N 0627-92: Personal Computing System
P/N 0627-93: IXRF EDS Electronics
P/N 0627-77: IXRF High Voltage Supply
P/N 0627-95: IXRF PC Acquisition Interface
P/N 0627-96: Iridium Software Package
Imaging / x-ray mapping hardware and software
4k x 4k image acquisition elemental x-ray mapping feature analysis
Image processing
Upgrades provide the following capabilities:
X-ray mapping
Line scans
Position-tagged spectroscopy
Feature measurement
Image processing.
AMRAY 1000是一種掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於提供多種樣品類型的高分辨率、三維圖像。該系統使用單色電子束（一種具有單一波長能量的電子束）通過表面相互作用對圖像樣本進行測量。一系列探測器和掃描機制能夠捕獲二維和三維圖像。1000具有高分辨率復合陰極-發光（CL） SEM探測器,具有三種照明模式,包括高、低角度反射和暗場成像。該探測器捕獲並解釋掃描電子束與樣品相互作用時產生的信號。信號的數據再經過處理，形成二維圖像和三維重建。還可以使用元素映射和曲面組成分析等分析包對數據進行進一步分析。該系統的廣域視圖室可對樣品進行精確測量,放大倍數可達120,000倍。該腔室還具有誘導二次電子補充成像分辨率的能力，可以調整電子束能量設置以達到最佳性能。AMRAY 1000提供了可重復的結果,非常適合實現可靠的高分辨率成像。適用於範圍廣泛的材料，包括生物標本和半導體樣品，能夠應付範圍廣泛的標本表面形狀和尺寸。該系統利用一系列探測器，包括二次電子圖像（SEI）、反向散射電子圖像（BSEI）和傳輸電子圖像（TEI），以便捕獲一系列圖像和數據集進行分析。除了成像模式之外，1000還通過增加一系列成像系統提供表面修改分析。
還沒有評論