二手 AMRAY 1830 #293657412 待售

製造商
AMRAY
模型
1830
ID: 293657412
Scanning Electron Microscope (SEM).
AMRAY 1830掃描電子顯微鏡(SEM)是一種對納米級樣品進行高分辨率成像和分析的強大工具。它具有較大的視野,最大分辨率為1.8 nm。這種顯微鏡被用於廣泛的應用,包括表面成像、樣品深度剖析、粒子/表面分析和化學分析。1830配備了高分辨率二次電子探測器,其最大空間分辨率為圓形1.8 nm,線性模式0.9 nm。它還具有高達500 mm的大視野,非常適合調查大樣本區域。SEM還能夠成像各種樣品類型,包括單晶、半導體、介電材料、絕緣體、塑料和金屬。AMRAY 1830利用數字成像處理來降低SEM成像固有的噪聲,與其他電子成像設備相比允許更好的分辨率和對比度。此外,顯微鏡是為高穩定性能而設計的,其計算機控制系統不需要手動掃描對準。1830配備了多種成像模式,包括二次電子(SE)、反向散射電子(BSE)和微分二次電子(DSE)。SE模式用於表面和樣本地形調查,而BSE模式可用於識別樣本中的不同材料。DSE模式允許表面對比度成像在具有化學或地形變化的表面上產生更好的對比度。AMRAY 1830還配備了電子跟蹤X射線分析的X射線探測器,包括元素分析、相位分析、化學鍵分析。X射線探測器可用於驗證和識別樣品的成分,從而可以對樣品進行更精確的分析。總體而言,1830是一個強大的掃描電子顯微鏡(SEM),提供高分辨率成像和樣品分析以及相位和元素分析。憑借其廣闊的視野、高分辨率、廣泛的應用,使得納米材料領域的各種研究應用成為可能。
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