二手 CAMBRIDGE EBMF-6 #145926 待售

CAMBRIDGE EBMF-6掃描電子顯微鏡（SEM）是一種能夠分析學術和工業環境中各種樣品材料的中壓SEM。該SEM配備了可變壓力氣體噴射設備，允許在低真空甚至環境條件下對樣品進行分析。EBMF-6能夠成像到納米級的結構，二次電子的分辨率為1 nm，反向散射電子的分辨率為3 nm。它具有0.25 nm/v的靈敏度和1 nm的小光斑尺寸,可實現最大分辨率。CAMBRIDGE EBMF-6 SEM具有用於檢測二次電子的Everhart-Thornley探測器，然後可用於3D成像。此外，專用的反向散射電子檢測器提供優越的圖像樣品的晶體結構。這項最先進的技術使研究人員能夠分離樣品的結構，而不會產生幹擾劑或背景噪聲。EBMF-6還包括支持各種圖像處理和圖像增強的數字光學系統。這通過允許樣品旋轉360°、數字變焦2倍、使圖像清晰度增加一倍以及允許在圖像中快速搜索對象,提高了SEM的準確性和速度。SEM還包括一個操縱桿操作的Focus和Z軸級,它可以進行樣品處理,而無需將樣品移到掃描電子束下方並重新定位。此功能加快了整個數據采集過程,這是SEM研究的重要組成部分。CAMBRIDGE EBMF-6由於其強大但用戶友好的控制單元而易於使用。該軟件具有直觀的圖形用戶界面，簡化了整個過程，並允許用戶快速學習如何控制SEM。總而言之,EBMF-6掃描電子顯微鏡是一款可靠、功能強大、用戶友好的SEM,它在小斑點尺寸和高靈敏度下提供出色的成像功能。其先進的特點和高效的控制機器使其成為學術和工業研究的絕佳選擇。