二手 CAMBRIDGE SZ4 #9163794 待售

CAMBRIDGE SZ4掃描電子顯微鏡（SEM）是一種高度先進的模塊化顯微鏡系統，設計用於材料和生命科學應用中的納米級成像。它能夠產生分辨率低至0.5nm的圖像,使研究人員能夠非常精確地觀察和分析極小的特征。SEM配備了多種功能，包括各種柱內探測器、改進的低壓操作，以及用於在非環境條件下成像的環境室。SZ4具有獨特的列內混合檢測器,它結合了二次電子檢測器和反向散射電子檢測器（BSE）,以任何樣本類型的優化信號生成更詳細的圖像。該系統還具有高分辨率二次電子探測器（SE2）和離散BSE探測器，以增強信號對比度，並在最小的結構上提供卓越的分辨率。此外，降低光束損傷可以實現低壓可操作性，是研究敏感樣品類型的理想選擇。SEM還為圖像捕獲和分析提供了廣泛的自動化功能和集成軟件。集成的自動對焦使用獨特的多收集器檢測器，以實現全自動微和納米分析。該軟件針對自動化操作和手動操作進行了優化,使用戶能夠自定義各種設置並優化圖像采集和分析。CAMBRIDGE SZ4的環境室為操作狀態和非操作狀態的成像提供了理想的條件。這項創新技術為用戶提供了在各種大氣條件下分析樣品的能力，例如高真空和大氣壓力。這可以對暴露於不同環境下的樣品的物理特性提供有價值的見解。總體而言，SZ4是一個高度先進的掃描電子顯微鏡系統，旨在提供高分辨率成像和自動化分析能力。CAMBRIDGE SZ4擁有最先進的探測器、低壓能力和環境室，是研究納米材料和生命科學應用的寶貴工具。