二手 COXEM CX-200TA #293636473 待售
網址複製成功!
單擊可縮放
ID: 293636473
優質的: 2018
Scanning Electron Microscope (SEM)
SE Resolution: 3.0 nm at 30 kV
Accelerating voltage: 1-30 kV
High vacuum mode
SED Detector
Magnification:
15x - 300,000x
100,000x
Specimen stage:
5-Axis motorized
X: 40 mm
Y: 60 mm
T: 20° to 90°
R: 360°
Z: 5-60 mm
Electron gun:
Pre-centered cartridge
Tungsten
Controls:
Keyboard
Mouse
Image adjustments:
Auto focus
Auto filament
Auto start
Auto brightness and contrast
Features:
Panorama shot
HD Mode
Dual display
Measurement tool
Remote control
Options:
EDS
BSED
Low vacuum
Cool stage
2018 vintage.
COXEM CX-200TA是一種通用的掃描電子顯微鏡和透射電子顯微鏡。它能夠進行亞微米分辨率成像,以及先進的成像、分析和操作模式。CX-200TA既提供傳統的SEM操作,又提供反向散射電子(BSE)檢測器,使其成為各種材料和應用的理想選擇。COXEM CX-200TA的最大分辨率可降至0.5nm,允許對樣品進行高分辨率成像。它配有鍍鉻鎢絲,用於SEM模式,並且可以選擇使用野外發射槍(FEG)進行高分辨率成像。它還包括一個具有4096 x 1024像素陣列的ProScal 3X2k-A高分辨率探測器,使其能夠同時進行明暗場成像。CX-200TA還配備了一系列配件,如法拉第杯、低壓漂移探測器和鋁/碳真空鎖,使其與一系列樣品兼容。它有一個高效的FEG-PEG對準系統,使平臺在X、Y、Z方向上移動以調整樣品的位置成為可能。COXEM CX-200TA還具有使用TEM模式控制高分辨率成像入口狹縫的智能系統。CX-200TA是一種功能強大、用途廣泛的SEM和TEM,適用於各種材料和應用。它允許低至0.5nm的成像,以及一系列其他高分辨率成像模式。COXEM CX-200TA還具有多種附件和操作模式,使其適用於一系列示例類型和應用程序。
還沒有評論